本文選題：紅外焦平面探測器　切入點(diǎn)：非均勻校正　出處：《紅外技術(shù)》2017年03期

【摘要】：制冷型紅外焦平面探測器的響應(yīng)非均勻性對其定量化應(yīng)用產(chǎn)生很多不利影響。本文在對紅外焦平面探測器像元響應(yīng)特性深入研究的基礎(chǔ)上,提出了一種的改進(jìn)型自適應(yīng)分段的紅外焦平面非均勻校正算法。該方法主要在前人研究的基礎(chǔ)上給出校正效果與分段校正閾值選擇之間的定量化關(guān)系,從而降低了分段校正時(shí)閾值選擇的盲目性。另外,該方法采用歸一化直線作為校正的目標(biāo)曲線,而非傳統(tǒng)方法中采用分段目標(biāo)曲線。文中首先分析了線性校正誤差的來源,然后給出校正效果與分段閾值之間的定量化關(guān)系,最后給出校正方法的原理和步驟。在校正效果評價(jià)方面,本文使用局部非均勻性(LNU)來評價(jià)校正后的效果,該方法相對于傳統(tǒng)的評價(jià)方法,更能體現(xiàn)校正后殘差的局部特性。實(shí)驗(yàn)表明,相對于傳統(tǒng)的多點(diǎn)校正法,該方法使用較少的參數(shù)量獲得更好的校正效果,并且易于工程實(shí)現(xiàn)。
[Abstract]:The nonuniformity of the response of the cooled infrared focal plane detector has a lot of adverse effects on its quantitative application. In this paper, the response characteristics of the infrared focal plane detector pixel are deeply studied. An improved adaptive segmented infrared focal plane nonuniformity correction algorithm is proposed. The quantitative relationship between the correction effect and the threshold selection of segmented correction is given based on previous studies. Therefore, the blindness of threshold selection in segmental correction is reduced. In addition, the normalized line is used as the corrected target curve, and the segmented target curve is not used in the traditional method. In this paper, the source of linear correction error is first analyzed. Then the quantitative relationship between correction effect and segmented threshold is given. Finally, the principle and steps of correction method are given. In the aspect of correction effect evaluation, this paper uses local nonuniformity (LNU) to evaluate the corrected effect. Compared with the traditional evaluation method, this method can better reflect the local characteristics of the residual error after correction. Experiments show that compared with the traditional multi-point correction method, this method has better correction effect with less parameters and is easy to be realized in engineering.
【作者單位】： 中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所;中國科學(xué)院大學(xué);中國科學(xué)院紅外探測與成像技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;
【基金】：中國科學(xué)院上海技術(shù)物理研究所創(chuàng)新基金(No.CX-60)
【分類號】：TN215

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本文編號：1682149