本文關(guān)鍵詞：一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的自動(dòng)仿真驗(yàn)證方法　出處：《微電子學(xué)》2017年01期 　論文類(lèi)型：期刊論文

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【摘要】：提出了一種針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中單元邏輯功能進(jìn)行自動(dòng)仿真驗(yàn)證的方法,驗(yàn)證了55nm標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)中單元邏輯功能的正確性。該方法能自動(dòng)提取設(shè)計(jì)文檔中的單元邏輯,根據(jù)提取結(jié)果中輸入端的數(shù)量自動(dòng)生成測(cè)試向量,并以此測(cè)試向量生成參考邏輯值,整個(gè)過(guò)程只需0.708μs。采用仿真工具對(duì)標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)文件進(jìn)行仿真,將得到的仿真值自動(dòng)與參考值對(duì)比,驗(yàn)證了庫(kù)單元邏輯的正確性,提高了標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)功能驗(yàn)證的效率。
[Abstract]:In this paper, a method for automatic simulation and verification of unit logic function in standard cell library is proposed. The correctness of unit logic function in 55nm standard cell library is verified. This method can automatically extract unit logic from design document and generate test vector automatically according to the number of input terminals in the result of extraction. The whole process only needs 0.708 渭 s. The simulation tool is used to simulate the standard cell library file, and the simulation value is automatically compared with the reference value. The correctness of library unit logic is verified and the efficiency of function verification of standard cell library is improved.
【作者單位】： 北京工業(yè)大學(xué)電子信息與控制工程學(xué)院;北達(dá)科他州立大學(xué)電子與計(jì)算機(jī)工程系;
【基金】：國(guó)家自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(61204040) 北京市教育委員會(huì)科技計(jì)劃面上項(xiàng)目(JC002999201301) 北京市自然科學(xué)基金資助項(xiàng)目(4152004)
【分類(lèi)號(hào)】：TN402
【正文快照】： 2.北達(dá)科他州立大學(xué)電子與計(jì)算機(jī)工程系,美國(guó)北達(dá)科他州法戈58102)0引言專(zhuān)用集成電路(Application Specific IntegratedCircuit,ASIC)是指為滿(mǎn)足特定用戶(hù)需求或特定電子系統(tǒng)需求而設(shè)計(jì)制造的集成電路[1,2]。它在構(gòu)成電子系統(tǒng)時(shí)具有體積小、重量輕、功耗低、可靠性高和成本低等

【參考文獻(xiàn)】

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【共引文獻(xiàn)】

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1 侯立剛;朱琳;趙未;智景松;彭曉宏;汪金輝;;一種標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)的自動(dòng)仿真驗(yàn)證方法[J];微電子學(xué);2017年01期

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【相似文獻(xiàn)】

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