本文關鍵詞：貓眼回波圖像隨CMOS器件激光損傷變化的實驗研究

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【摘要】：成像系統(tǒng)中的CMOS探測器被激光損傷后,其貓眼回波會發(fā)生變化。對貓眼回波圖像的變化進行了實驗研究,發(fā)現(xiàn)隨著用于損傷的激光功率增加,CMOS器件的微透鏡發(fā)生分解,直至最終消失,并使器件表面形成由遮光鋁膜和光敏區(qū)構成的二維光柵,貓眼回波圖像內的陣列光斑也經(jīng)歷了逐步消失又恢復的過程。以高斯隨機表面模擬微透鏡表面形貌,建模計算了貓眼回波圖像隨微透鏡損傷程度的變化,計算結果與實驗現(xiàn)象相符。
【作者單位】： 脈沖功率激光技術國家重點實驗室(電子工程學院);
【基金】：國家重點實驗室基金(SKL2014ZR06)
【分類號】：TN249
【正文快照】： 1　引　　言光電成像系統(tǒng)廣泛地應用于航空、航天、偵察與微光夜視等領域,然而其光電探測器又非常容易受到激光的干擾與損傷,嚴重影響其正常工作。因此,研究激光對探測器的輻照效應具有重要意義,相關領域的研究成果也非常豐富[1-8]。激光輻照探測器使微透鏡、遮光鋁膜和基底出

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本文編號：1270327