本文關(guān)鍵詞：彈載行波管貯存壽命評(píng)估方法研究

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【摘要】：本文提出一種新的長(zhǎng)期貯存壽命的評(píng)估方法。長(zhǎng)期貯存壽命是彈載行波管的重要指標(biāo)。首先,本文通過(guò)實(shí)驗(yàn)標(biāo)定離子流與真空度的對(duì)應(yīng)關(guān)系,然后再用檢測(cè)離子流來(lái)間接反映行波管真空度,判斷行波管長(zhǎng)期貯存壽命。通過(guò)試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析,某彈載行波管長(zhǎng)期貯存壽命預(yù)測(cè)超過(guò)20年。
【作者單位】： 北京真空電子技術(shù)研究所;
【分類號(hào)】：TN124
【正文快照】： 導(dǎo)彈具有“長(zhǎng)期貯存,一次性使用”的特點(diǎn),貯存壽命是導(dǎo)彈的一個(gè)重要戰(zhàn)技指標(biāo)[1]。貯存壽命的定義:“產(chǎn)品在規(guī)定條件下貯存時(shí),仍能滿足質(zhì)量要求的時(shí)間長(zhǎng)度,質(zhì)量要求是指失效率在允許的范圍內(nèi)沒(méi)有增大的趨勢(shì)”[2]。應(yīng)用在各種現(xiàn)代化導(dǎo)彈系統(tǒng)、有源電子誘餌中的真空電子器件,面臨

【相似文獻(xiàn)】

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