ZnO晶體制備及復合缺陷對其電子結構與光學性質(zhì)影響研究
本文關鍵詞:ZnO晶體制備及復合缺陷對其電子結構與光學性質(zhì)影響研究
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【摘要】:隨著ZnO材料的應用,ZnO晶體的制備及缺陷也受到廣大的關注。采用理論研究方法對ZnO晶體中的本征缺陷及與其相關的缺陷進行研究,可以為ZnO晶體的制備、摻雜研究及更好的實現(xiàn)ZnO晶體的p型轉(zhuǎn)化提供理論依據(jù),通過了解ZnO晶體中的本征缺陷及與其相關的缺陷的機制對于半導體的運用具有至關重要的意義。本論文利用無籽晶石墨輔助化學氣相法制備ZnO晶體對對其結構分析和成份分析,運用第一性原理對本征缺陷分別與Al或Ga雜質(zhì)離子共存的復合缺陷ZnO晶體的電子結構和光學性質(zhì)進行了研究。具體內(nèi)容如下:1.制備出的ZnO晶體尺寸為Φ4 mm×5 mm,為六角纖鋅礦結構,具有良好的C軸擇優(yōu)取向,結晶性較好,質(zhì)量較好,雜質(zhì)成分有所降低,但微量的Al、Ga等雜質(zhì)仍存在。2.建立了鋅間隙(Zni)、氧空位(VO)、鋅空位(V_(Zn))三種本征缺陷分別與Al雜質(zhì)共存的復合缺陷ZnO晶體模型(Al_(Zn)Zn_i、AlZnVO、AlZnV_(Zn)三種復合缺陷)。討論了這三種復合缺陷對ZnO晶體電子結構和光學性質(zhì)的影響。計算結果表明:(1)在結構上,Al_(Zn)Zn_i復合缺陷使ZnO晶體的體積增加,AlZnVO、AlZnV_(Zn)復合缺陷使ZnO晶體的體積減小,其中AlZnVO復合缺陷使ZnO晶體體積減小的最多;(2)從缺陷形成能的計算結果來看,Al_(Zn)Zn_i復合缺陷相比于另外兩種復合缺陷更容易在ZnO晶體中形成;(3)從能帶圖和電子態(tài)密度圖中可看出,Al ZnZni復合缺陷對ZnO晶體的影響最大,其在導帶底帶來過量的剩余電子,使得ZnO晶體的能帶整體往下移,費米能級進入導帶,ZnO晶體呈現(xiàn)出簡并半導體的特征;Al_(Zn)Zn_i和AlZnVO復合缺陷對ZnO晶體呈n型半導體能作出貢獻;Al ZnV_(Zn)復合缺陷使得ZnO晶體帶隙有所增大。(4)對于光學性質(zhì),Al_(Zn)Zn_i和Al ZnVO復合缺陷都使得ZnO晶體介電函數(shù)虛部在4.52 eV處的波峰發(fā)生紅移,且峰值增大。3.對Zni、VO、V_(Zn)與Ga雜質(zhì)形成的復合缺陷ZnO晶體模型(Ga_(Zn)Zn_i、Ga_(Zn)VO、Ga_(Zn)V_(Zn)三種復合缺陷)進行了研究。計算結果表明:(1)Ga_(Zn)Zn_i復合缺陷使ZnO晶體的體積增加,Ga_(Zn)VO、Ga_(Zn)V_(Zn)復合缺陷則使ZnO晶體的體積減小,其中Ga_(Zn)VO復合缺陷使ZnO晶體體積減小的最多;(2)Ga_(Zn)Zn_i復合缺陷較另外兩種復合缺陷更容易在ZnO晶體中形成;(3)Ga_(Zn)Zn_i和Ga_(Zn)VO復合缺陷對ZnO晶體呈n型半導體有貢獻;Ga_(Zn)Zn_i、Ga_(Zn)VO、Ga_(Zn)V_(Zn)三種復合缺陷都在價帶底和價帶底與孤立能級間都引入了由Ga原子貢獻的新能級;(4)Ga_(Zn) Zni和Ga_(Zn)VO復合缺陷導致ZnO晶體介電函數(shù)的虛部在4.52 eV處的峰往低能量方向移動,同時峰值強度顯著增加;
【學位授予單位】:西華師范大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TN304.21
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9 李煜q
本文編號:1238713
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