發(fā)布時間：2017-11-23 08:22

  本文關(guān)鍵詞：延時故障檢測功能在DFT中的實現(xiàn)

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【摘要】：隨著集成電路的快速發(fā)展,電路的設(shè)計方法已經(jīng)到了很高的抽象級,使得測試面臨的問題也越來越多,在眾多的測試技術(shù)中邊界掃描測試越來越多的受到人們的關(guān)注。本文首先描述了現(xiàn)在邊界掃描的整體研究背景,目前國內(nèi)外的研究現(xiàn)狀和現(xiàn)在的發(fā)展趨勢。依據(jù)現(xiàn)有的電路測試方法進行總結(jié),從整體性介紹了現(xiàn)有的測試方法,并且對現(xiàn)在的每一種測試方法進行簡要的介紹和總結(jié)并給出其測試的優(yōu)缺點。本論文主要針對目前邊界掃描技術(shù)測試技術(shù)進行著重的介紹,從最基本的IEEE 1149.1測試方法介紹其基本結(jié)構(gòu)和適用的電路模型。沿著歷史的發(fā)展,目前邊界掃描測試技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到IEEE 1500標(biāo)準(zhǔn),本論文著重介紹IEEE 1500標(biāo)準(zhǔn)邊界掃描測試方法。本文的研究主題是基于IEEE 1500測試標(biāo)準(zhǔn),整體性的介紹IEEE 1500測試標(biāo)準(zhǔn)的概況和其可擴展的核心測試架構(gòu),并對此架構(gòu)中的時鐘脈沖濾波器進行研究,給出兩個時鐘域的時鐘脈沖濾波器的模型,對其模型和理論仿真結(jié)果研究出時鐘脈沖濾波器結(jié)構(gòu)。對IEEE 1500測試標(biāo)準(zhǔn)上做了一定的改進,對輸入和輸出寄存器進行一定的改進,讓其通過轉(zhuǎn)換復(fù)用器信號而不是觸發(fā)更新事件來達到轉(zhuǎn)換信號的目的。其次對時鐘控制電路進行一定改進,并給出延遲測試的時鐘控制器模型。對IEEE 1500核心的TAP控制器中的16位有限狀態(tài)機進行一定的改進并對改進后的狀態(tài)機仿真得出結(jié)果。對延時故障測試序列的給出一定的說明并給出仿真結(jié)果。最后,總結(jié)前文的工作內(nèi)容提出整體的改進架構(gòu),并將測試序列添加到TAP控制器控制中得到仿真結(jié)果,根據(jù)仿真結(jié)果給出延時故障時間的計算公式,依據(jù)研究結(jié)果給出面積與電路延時故障之間的關(guān)系。
【學(xué)位授予單位】：北方工業(yè)大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2016
【分類號】：TN407

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本文編號：1217826