本文關(guān)鍵詞：基于果蠅算法優(yōu)化徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型的白光發(fā)光二極管可靠性

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【摘要】：根據(jù)白光發(fā)光二極管失效物理機(jī)制選取理想因子、結(jié)溫、色坐標(biāo)漂移量等參數(shù)作為輸入量,利用果蠅算法自學(xué)習(xí)優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)基函數(shù)寬度,提高輸出精度.研究表明,徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型可以成功預(yù)測(cè)白光發(fā)光二極管可靠性衰變趨勢(shì),具有較高的穩(wěn)定性和魯棒性;利用果蠅算法優(yōu)化后,預(yù)測(cè)平均誤差成功減少為3.1%,對(duì)未來(lái)建立以神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)為基礎(chǔ)的發(fā)光二極管可靠性預(yù)測(cè)模型庫(kù)提供有益幫助.
【作者單位】： 華南理工大學(xué)發(fā)光材料與器件國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;廣東銀禧科技股份有限公司;
【基金】：廣東省戰(zhàn)略性新興產(chǎn)業(yè)專(zhuān)項(xiàng)(Nos.2011A081301017,2012A08034012,2012A080304001)資助~~
【分類(lèi)號(hào)】：TN312.8
【正文快照】： 萬(wàn)小時(shí)的理論壽命相距甚遠(yuǎn).主流檢測(cè)機(jī)構(gòu)基于美標(biāo)0　引言LM-80測(cè)試LED芯片壽命,耗時(shí)長(zhǎng)、成本高,不利于發(fā)光二極管(Light　Emitting　Diode,LED)作為國(guó)LED可靠性的檢測(cè)乃至品質(zhì)提升.LED可靠性分析加家大力支持的節(jié)能環(huán)保光源具有發(fā)光效率高、驅(qū)動(dòng)電速應(yīng)力測(cè)試主要利用逆冪定律

【相似文獻(xiàn)】

中國(guó)期刊全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前2條

1 何益宏;張立濤;;基于徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)滯環(huán)電流跟蹤控制的有源電力濾波器[J];華北水利水電學(xué)院學(xué)報(bào);2012年04期

2 ;[J];;年期

中國(guó)碩士學(xué)位論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 張海濤;基于卡爾曼濾波器算法的徑向基神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練算法研究[D];北京化工大學(xué);2007年

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本文編號(hào)：1185613