本文關(guān)鍵詞：測試平臺(tái)數(shù)據(jù)比對及相關(guān)問題分析

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【摘要】：在芯片產(chǎn)業(yè)鏈中,芯片測試環(huán)節(jié)是不可或缺的,是對芯片產(chǎn)品質(zhì)量檢驗(yàn)的重要手段之一。為了滿足測試產(chǎn)能的需要,受各種因素影響,往往需要在不同測試平臺(tái)進(jìn)行產(chǎn)能擴(kuò)展的活動(dòng),開發(fā)對應(yīng)的測試程序。在芯片測試程序開發(fā)完成之后,需要對測試平臺(tái)移植進(jìn)行風(fēng)險(xiǎn)評估,也就是工程批實(shí)驗(yàn),根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果判斷是否可以進(jìn)行后續(xù)量產(chǎn)。通過對一款芯片在T2000和J750兩種測試平臺(tái)的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,深入了解測試平臺(tái)移植過程中,如何對開發(fā)結(jié)果進(jìn)行評價(jià),并在對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行詳細(xì)比對和差異化問題分析過程中,從不同角度闡述測試數(shù)據(jù)的一致性和重復(fù)性問題。
【作者單位】： 北京確安科技股份有限公司;
【分類號(hào)】：TN407
【正文快照】： 1引言隨著電子技術(shù)的不斷革新,涉及的范圍也在不斷擴(kuò)大。在芯片測試行業(yè)[1],同一款芯片測試在不同機(jī)臺(tái)上面開發(fā)時(shí)有發(fā)生,往往在產(chǎn)能調(diào)配,或者產(chǎn)能激增的情況下發(fā)生,那么多種平臺(tái)的測試結(jié)果比對就顯得尤為重要。2平臺(tái)介紹泰瑞達(dá)J750[2]測試機(jī)是集成電路測試設(shè)備歷史上最常用的

【相似文獻(xiàn)】

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1 鄭瀏e，

本文編號(hào)：1153972