日盲濾光片高精度透過率測試系統(tǒng)研制
本文關鍵詞:日盲濾光片高精度透過率測試系統(tǒng)研制
更多相關文章: 日盲濾光片 透過率測試 高精度 光電倍增管 ICCD 光子計數(shù) 多幀圖像累加 連通區(qū)域標記
【摘要】:日盲濾光片作為日盲紫外探測系統(tǒng)的核心部件,可有效地濾除日盲區(qū)外的響應波段,降低日盲區(qū)外輻射的影響。透過率是日盲濾光片的重要性能參數(shù),由于濾光片在日盲區(qū)外的透過率極低(約為10-10),因此其透過率測試十分困難。本文圍繞濾光片透過率測試技術展開深入研究,分別研制了基于光電倍增管和基于ICCD光子計數(shù)的濾光片透過率測試系統(tǒng)。本文首先介紹了日盲紫外探測的概念和國內外紫外探測的發(fā)展應用,概述了日盲濾光片透過率測試的發(fā)展現(xiàn)狀;然后,根據(jù)濾光片透過率高精度測試的需求,提出了一種基于光電倍增管的濾光片透過率測試方法,所采用的光調制器和鎖相放大器可有效地抑制暗噪聲和雜散光的干擾,選用激光泵浦寬帶光源可實現(xiàn)寬光譜測試,且能夠彌補單光束透過率測試方法的不足。根據(jù)提出的測試方法搭建了相應的濾光片透過率測試硬件平臺,設計了測試軟件,完成了測試系統(tǒng)軟、硬件聯(lián)調;接著,以光子計數(shù)技術和ICCD工作原理為理論基礎,研制了基于ICCD光子計數(shù)的濾光片透過率測試系統(tǒng)。將ICCD的輸出視頻信號進行多幀累加和閾值二值化處理,利用連通區(qū)域標記算法對處理后的圖像進行光子計數(shù),從而計算出濾光片的透過率;最后,利用研制的測試系統(tǒng)對日盲濾光片進行了透過率測試,測試結果表明:其可探測到的極限濾光片透過率可達10J2,滿足高精度測試的需求。
【關鍵詞】:日盲濾光片 透過率測試 高精度 光電倍增管 ICCD 光子計數(shù) 多幀圖像累加 連通區(qū)域標記
【學位授予單位】:南京理工大學
【學位級別】:碩士
【學位授予年份】:2016
【分類號】:TN23
【目錄】:
- 摘要3-4
- Abstract4-7
- 1 緒論7-10
- 1.1 日盲紫外探測的概念7
- 1.2 國內外紫外探測的發(fā)展與應用7-8
- 1.3 研究意義及背景8-9
- 1.4 本文的主要工作9-10
- 2 基于光電倍增管的濾光片透過率測試系統(tǒng)10-28
- 2.1 測試系統(tǒng)性能要求10
- 2.2 系統(tǒng)測試原理10-12
- 2.3 標定原理及計算方法12-14
- 2.4 測試系統(tǒng)儀器選型14-20
- 2.4.1 光源14
- 2.4.2 光調制器14-15
- 2.4.3 雙級聯(lián)單色儀15-16
- 2.4.4 紫外光電倍增管16-17
- 2.4.5 高壓電源17-18
- 2.4.6 光電信號處理模塊18
- 2.4.7 鎖相放大器18-20
- 2.5 濾光片透過率測試軟件20-27
- 2.5.1 軟件開發(fā)平臺簡介20
- 2.5.2 軟件設計總體框架20-21
- 2.5.3 測試控制模塊21-26
- 2.5.4 數(shù)據(jù)庫模塊26-27
- 2.6 測試流程27
- 2.7 本章小結27-28
- 3 基于ICCD光子計數(shù)的濾光片透過率測試系統(tǒng)28-43
- 3.1 光子計數(shù)技術28-29
- 3.1.1 光子計數(shù)原理28-29
- 3.1.2 單光子的能量29
- 3.2 單光子探測器的結構和工作原理29-35
- 3.2.1 光電倍增管PMT29-31
- 3.2.2 電子倍增電荷耦合器件EMCCD31-32
- 3.2.3 電子轟擊電荷耦合器件EBCCD32-33
- 3.2.4 增強型電荷耦合器件ICCD33-35
- 3.3 基于ICCD的光子計數(shù)成像系統(tǒng)35-42
- 3.3.1 成像系統(tǒng)工作原理35-36
- 3.3.2 成像系統(tǒng)硬件選型36-38
- 3.3.3 多幀圖像累加處理38-40
- 3.3.4 連通區(qū)域標記算法40-42
- 3.4 本章小結42-43
- 4 濾光片透過率測試結果與分析43-57
- 4.1 光源穩(wěn)定性測試43-44
- 4.2 基于光電倍增管的濾光片透過率測試44-51
- 4.2.1 系統(tǒng)標定測試44-48
- 4.2.2 日盲濾光片光譜透過率測試48-49
- 4.2.3 系統(tǒng)重復性測試49-51
- 4.3 基于ICCD光子計數(shù)的濾光片透過率測試51-56
- 4.3.1 ICCD光子計數(shù)結果與透過率計算51-55
- 4.3.2 ICCD光子計數(shù)誤差分析55-56
- 4.4 本章小結56-57
- 5 結束語57-59
- 5.1 論文工作總結57-58
- 5.2 有待完善的工作58-59
- 致謝59-60
- 參考文獻60-63
- 附錄63
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