基于數字全息的雙包層光纖參數測量
本文關鍵詞:基于數字全息的雙包層光纖參數測量
更多相關文章: 數字全息 折射率測量 幾何尺寸 特種光纖 分層算法
【摘要】:為了準確、快速和無損測量光纖的折射率分布和幾何尺寸,基于數字全息顯微層析技術構建了光纖參數的測量系統,包括優(yōu)化的光路系統和軟件分析系統。以雙包層光纖為實驗樣品,由CCD記錄最優(yōu)數字全息圖,通過單幅最優(yōu)全息圖提取光纖相位差分布,由分層算法重建光纖折射率并對其進行誤差分析,采用基于邊緣檢測的算法對重建折射率進行誤差校正和幾何尺寸的提取。實驗結果表明,與S14折射率測量儀和顯微拍攝的光纖斷面測量結果對比,本文方法重建的雙包層光纖折射率差值與S14的測量結果吻合,幾何尺寸優(yōu)于S14的測量結果。
【作者單位】: 上海大學特種光纖與光接入網省部共建重點實驗室;
【關鍵詞】: 數字全息 折射率測量 幾何尺寸 特種光纖 分層算法
【基金】:國家自然科學基金(61178088,61475098) 上海市科技創(chuàng)新行動計劃(14511100100) 上海市科委科研計劃(14440500100)資助項目
【分類號】:TN253
【正文快照】: 1引言光纖作為一種導光介質,在通信、傳感、檢測、精密測量和高能光纖激光器等領域得到了大量的應用。光纖折射率分布和斷面尺寸是影響光纖的損耗、帶寬、傳感特性和通信性能的主要因素。因此,準確地測量光纖的折射率分布[1,2]和幾何尺寸對于研究光纖性能的好壞具有重要的價值
【參考文獻】
中國期刊全文數據庫 前9條
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本文編號:1002054
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