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甲基橙在聚吡咯/納米SiO 2 復(fù)合材料上的氧化性能

發(fā)布時間:2024-03-10 09:11
  采用紫外-可見光譜法研究了甲基橙在聚吡咯/納米Si O2復(fù)合材料(PPy/n-Si O2)上的氧化性能.結(jié)果表明:在弱酸性介質(zhì)中,PPy/n-Si O2對甲基橙的氧化性能明顯優(yōu)于聚吡咯;反應(yīng)540 min時,甲基橙氧化反應(yīng)符合表觀一級反應(yīng)動力學(xué);反應(yīng)60 min時,甲基橙的降解率可達(dá)到94.7%;PPy/n-Si O2經(jīng)二次回收再生后,反應(yīng)60 min時甲基橙降解率為96.5%.

【文章頁數(shù)】:4 頁

【文章目錄】:
1 實驗部分
    1.1 試劑與儀器
    1.2 甲基橙的氧化反應(yīng)及其降解率計算
2 結(jié)果與討論
    2.1 甲基橙在PPy/n-Si O2上的氧化反應(yīng)
    2.2 甲基橙氧化反應(yīng)的光譜分析
    2.3 甲基橙氧化反應(yīng)的動力學(xué)
    2.4 PPy/n-Si O2的再生回收
3 結(jié)論



本文編號:3924567

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