表界面在重要的能源材料過程中扮演著極其重要的角色,對表界面納米尺度和分子水平的表征有助于揭示其構(gòu)效關(guān)系.針尖增強拉曼光譜(TERS)技術(shù)結(jié)合了等離激元增強拉曼光譜和掃描探針顯微鏡(SPM)技術(shù),能夠同時在納米尺寸和分子尺度上表征表界面的物理形貌信息和化學(xué)指紋信息,因此被廣泛地應(yīng)用于催化、材料等領(lǐng)域的研究.本文首先從TERS技術(shù)在表界面研究中的優(yōu)勢出發(fā),回顧TERS技術(shù)在廈門大學(xué)的發(fā)展歷程,詳細闡述了包括TERS針尖和儀器構(gòu)型等TERS技術(shù)的核心問題;進而分析討論了近年來TERS技術(shù)在超高真空、固氣界面和固液(電化學(xué))界面研究中的應(yīng)用;最后總結(jié)了TERS技術(shù)中亟待解決的問題并展望TERS技術(shù)未來的發(fā)展方向.

【文章頁數(shù)】：13 頁

【文章目錄】：
1 TERS在廈門大學(xué)的發(fā)展
2 TERS針尖與儀器
    2.1 針尖
    2.2 TERS儀器構(gòu)型
3 體系應(yīng)用
    3.1 超高真空超低溫
    3.2 固氣界面
    3.3 固液和電化學(xué)界面
4 展望



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