銀基電接觸材料作為接通、分?jǐn)嚯娮与娐返年P(guān)鍵核心材料元件,其性能對(duì)電器的使用壽命、通斷容量、安全可靠性及電子電路能否順利運(yùn)行具有重要作用。其中,銀金屬氧化物（Ag/MeO）電接觸材料是一種氧化物顆粒分布于銀基體中的電接觸材料,不僅具有銀的高導(dǎo)電、高導(dǎo)熱性能,同時(shí)又具有氧化物的高熔點(diǎn)、高硬度等性能,在電接觸材料中具有十分重要的研究意義。Ag/CdO電接觸材料作為萬能觸點(diǎn),具有優(yōu)異的耐電弧侵蝕、抗熔焊等特性,但是其在加工和使用過程中存在有毒Cd元素?fù)]發(fā)問題,已被歐盟等多個(gè)國(guó)家禁用。Ag/SnO₂電接觸材料是市場(chǎng)應(yīng)用較多且極其重要的銀基電接觸材料,其增強(qiáng)相SnO₂熱穩(wěn)定性高,在通斷過程中有高的耐熱耐電弧侵蝕特性,且SnO₂作為一種寬帶隙n型半導(dǎo)體具有較高的電子遷移率,使得Ag/SnO₂抗電弧侵蝕性、抗熔焊性、材料損耗等綜合性能優(yōu)異,最有希望替代Ag/CdO。但Ag/SnO₂材料仍存在接觸電阻較高、加工困難等問題,主要是由于Ag與SnO₂之間浸潤(rùn)性差、SnO

【文章來源】：浙江大學(xué)浙江省 211工程院校 985工程院校 教育部直屬院校

【文章頁數(shù)】：125 頁

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

課題研究?jī)?nèi)容框架圖

浙江大學(xué)碩士畢業(yè)論文14η=ρρ0×100%(2.3)式中，ρ為樣品測(cè)量的實(shí)際密度，ρ0代表樣品的理論密度。2.4.5電阻率測(cè)試本實(shí)驗(yàn)采用D60K數(shù)字金屬電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x檢測(cè)電接觸材料的電阻率。對(duì)每個(gè)待測(cè)樣品測(cè)量3次后取平均值。2.4.6硬度測(cè)試本實(shí)驗(yàn)采用MHV2000數(shù)顯顯微硬度計(jì)測(cè)試電接觸材料的硬度值。測(cè)試載荷500g，保壓15s，對(duì)每個(gè)待測(cè)樣品測(cè)量5次后取平均值。2.4.7電壽命測(cè)試將Ag/SnO2電接觸材料通過線切割加工成2.35mm的觸頭，在電壽命實(shí)驗(yàn)臺(tái)上進(jìn)行電壽命實(shí)驗(yàn)，實(shí)驗(yàn)裝置如圖2.2所示。實(shí)驗(yàn)參數(shù)根據(jù)不同變量調(diào)整。通過電腦收集最終得到的包括燃弧時(shí)間、燃弧能量等電性能參數(shù)，并采用電子天平測(cè)量實(shí)驗(yàn)前后的觸頭質(zhì)量損失。圖2.2電壽命測(cè)試裝置圖Fig.2.2Equipmentdiagramofelectricallife-testing

浙江大學(xué)碩士畢業(yè)論文18圖3.3不同頻率下動(dòng)、靜觸頭表面XRD圖Fig.3.3XRDpatternsofthesurfaceofmovingandstaticcontactsatdifferentfrequencies圖3.4是Ag/SnO2動(dòng)、靜觸頭在不同頻率下表面質(zhì)量損失趨勢(shì)圖，可以發(fā)現(xiàn)，和SEM圖相對(duì)應(yīng)，當(dāng)頻率較低時(shí)，靜觸頭在純機(jī)械力作用下幾乎不出現(xiàn)質(zhì)量損失，隨著頻率增加到1.5Hz時(shí)，靜觸頭質(zhì)量發(fā)生增加，這可能是由于頻率增加進(jìn)而加快了動(dòng)、靜觸頭表面的磨損，使得動(dòng)觸頭表面的一部分材料因?yàn)闄C(jī)械原因而粘附至靜觸頭所致。當(dāng)頻率再加快時(shí)，兩者均出現(xiàn)質(zhì)量損失的現(xiàn)象。圖3.4不同頻率下動(dòng)、靜觸頭質(zhì)量損失趨勢(shì)圖Fig.3.4Masslosstrendofmovingandstaticcontactsunderdifferentfrequencies3.2.2觸點(diǎn)間隙對(duì)Ag/SnO2電觸頭的性能影響為了研究純機(jī)械力作用下觸點(diǎn)間隙對(duì)Ag/SnO2動(dòng)、靜觸頭表面的影響。通過調(diào)節(jié)觸點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)中動(dòng)、靜觸頭間隙使Ag/SnO2動(dòng)靜觸頭在不同間隙條件下進(jìn)行閉合-斷開過程。將間隙設(shè)置為0.5mm、1.0mm、2.0mm、3.0mm以及5.0mm，循環(huán)操作次數(shù)為20k次。(a)(b)

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博士論文
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本文編號(hào)：3524208