隨著信息技術(shù)的飛速發(fā)展,電子產(chǎn)品在日常生活中應(yīng)用廣泛,電磁波的應(yīng)用帶來了極大的便利,也造成了嚴(yán)重的電磁污染,它不僅會對人體造成損害,更會導(dǎo)致電子設(shè)備系統(tǒng)遭到破壞。因此,開發(fā)輕質(zhì)高效的電磁屏蔽材料成為當(dāng)前解決電磁污染問題的有效途徑。本文采用氧化石墨烯（GO）、碳纖維（CF）和納米Fe₃O₄等輕質(zhì)材料制備電磁屏蔽復(fù)合材料,并通過SEM、TEM、FTIR等表征手段對材料進行微觀形貌表征和性能測試,并分析電磁屏蔽機理,具體研究內(nèi)容如下:（1）采用溶劑熱法制備納米Fe₃O₄,并對其形貌、結(jié)構(gòu)和磁性進行表征。采用電化學(xué)刻蝕法對CF進行表面處理。以CF和納米Fe₃O₄為功能體、水泥砂漿為基體制備CF/Fe₃O₄/水泥復(fù)合材料,并測試其在X波段（8.2¹2.4 GHz）內(nèi)的電磁屏蔽性能。測試結(jié)果表明,當(dāng)CF含量為0.4 wt%、Fe₃O₄納米粒子含量為5 wt%時... 

【文章來源】：濟南大學(xué)山東省

【文章頁數(shù)】：66 頁

【學(xué)位級別】：碩士

【部分圖文】：

電磁屏蔽原理圖

圖 2.1 實驗流程圖1 GO 的制備驗采用改進的 Hummers 法制備 GO， 具體制備過程如圖 2.2 所示。濃 H2SO4NaNO3石墨粉冰浴攪拌去離子水升溫35 ℃水浴攪拌 2 h98 ℃油浴保溫 15minKMnO4

圖 3.1 CF 表面微觀形貌 (a)除漿處理前 (b)除漿處理后 納米 Fe3O4的結(jié)構(gòu)本文采用溶劑熱法制備納米 Fe3O4粒子，為了觀察納米 Fe3O4的微觀形貌，對描電鏡分析，如圖 3.2 (a)為納米 Fe3O4的掃描電鏡圖。從圖中可以看出，納米 均勻，呈圓球狀結(jié)構(gòu)，平均粒徑約為 30 ~ 50 nm，但是，由于納米 Fe3O4表面出現(xiàn)一定的團聚現(xiàn)象，分散性較差。圖 3.2 (b)為納米 Fe3O4的 XRD 測試結(jié)果其結(jié)構(gòu)特點。從圖中可以得知，試樣表現(xiàn)出了 Fe3O4的衍射特征峰，2θ角為 30 °、43.2 °、53.5°、56.1 °及 62.7 °時的衍射峰，分別對應(yīng) Fe3O4的(220)、(311)、()、(511)、(440)晶面，與 JCPDS file NO. 19-0629 卡片吻合。通過 XRD 的分析實驗制備所得的 Fe3O4納米粒子樣品具有反尖晶石結(jié)構(gòu)。


本文編號：3454212