發(fā)布時(shí)間：2021-08-19 17:35

　　隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步與發(fā)展,各種電子產(chǎn)品也不斷的在擴(kuò)展更新,而其產(chǎn)生的電磁波輻射由于看不見(jiàn),摸不著,聞不到已成為了一種新的社會(huì)公害。電磁波輻射不僅會(huì)威脅人體的身心健康,同時(shí)也使得電子設(shè)備不能正常運(yùn)行。因此,吸波材料的研究有著重要的意義。將片狀鐵硅鉻（FeSiCr）磁粉與導(dǎo)電高分子復(fù)合,可制備出既具有磁損耗又具有電損耗的復(fù)合材料,能有效的改善FeSiCr磁粉密度大和損耗機(jī)制單一等問(wèn)題,從而使得吸波性能得到有效改善。本文以片狀Fe SiCr磁粉為基體,將苯胺（An）單體通過(guò)原位聚合法聚合在Fe SiCr表面,制備出鐵硅鉻/聚苯胺（FeSiCr/PANI）復(fù)合材料。通過(guò)X-射線(xiàn)衍射儀（XRD）、傅里葉紅外光譜儀（FTIR）、掃描電子顯微鏡（SEM）和四探針測(cè)試儀對(duì)材料進(jìn)行表征,并討論了An含量和磁場(chǎng)大小對(duì)復(fù)合材料吸波性能的影響以及Fe SiCr磁粉表面的改性機(jī)理,結(jié)果表明:（1）采用正硅酸乙酯（Tetraethyl Orthosilicate TEOS）和硅烷偶聯(lián)劑（KH550）對(duì)片狀鐵硅鉻磁粉進(jìn)行表面改性,通過(guò)改性劑的水解、縮合反應(yīng)在鐵硅鉻磁粉表面分別引入了-OH和-NH2,能有效地改善... 

【文章來(lái)源】：西安建筑科技大學(xué)陜西省

【文章頁(yè)數(shù)】：77 頁(yè)

【學(xué)位級(jí)別】：碩士

【部分圖文】：

聚苯胺的結(jié)構(gòu)

第2章實(shí)驗(yàn)內(nèi)容19(a)(b)圖2.2模具樣品(a)2.6~3.95GHz；(b)3.95~5.85GHzFig.2.2Themoldsamples(a)2.6~3.95GHzand(b)3.95~5.85GHz2.4材料的結(jié)構(gòu)及性能表征2.4.1X射線(xiàn)衍射儀X射線(xiàn)衍射（X-rayDiffraction，XRD）是重要的相分析方法,通過(guò)對(duì)樣品進(jìn)行X射線(xiàn)衍射，獲得樣品的衍射圖，并觀察其相組成和晶體微觀結(jié)構(gòu)[60]。其原理為：每個(gè)晶體都具有周期性結(jié)構(gòu)，當(dāng)X射線(xiàn)與晶胞具有相近尺寸時(shí)，入射的X射線(xiàn)將發(fā)生衍射，強(qiáng)度與角度都發(fā)生變化，通過(guò)收集衍射數(shù)據(jù)，可以確定樣品的晶粒尺寸、晶胞參數(shù)和晶相結(jié)構(gòu)，通過(guò)對(duì)比標(biāo)準(zhǔn)PDF卡片，可以知道材料的相關(guān)信息[61]。本實(shí)驗(yàn)采用D/MAX-2200型X射線(xiàn)衍射儀，管電壓和管電流分別為40kV和40mA，靶材為銅靶,角度范圍為10°～80°，掃描速度為5°/min。2.4.2掃描電子顯微鏡掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscopy，SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)形貌的重要工具，它主要由四部分組成即真空系統(tǒng)、信號(hào)接受處理系統(tǒng)、供電系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)[60]。其工作原理是：利用從電子槍陰極發(fā)射的電子束，經(jīng)加速電位加速后掃描樣品表面，被高能電子束轟擊的樣品將會(huì)激發(fā)出二次電子、背散射電子、特征X射線(xiàn)和俄歇電子等物理信號(hào)，把這些信號(hào)調(diào)制成像就可以用來(lái)觀察試樣的表面情況[17]。本實(shí)驗(yàn)采用的是JSM-6390型SEM，工作電壓為20Kv。2.4.3傅里葉紅外光譜傅里葉紅外光譜（FourierTransformInfraredSpectra，F(xiàn)TIR）是根據(jù)物質(zhì)的分子對(duì)不同波長(zhǎng)紅外光的吸收程度不同來(lái)研究物質(zhì)的分子組成和結(jié)構(gòu)[14]。當(dāng)用紅外

西安建筑科技大學(xué)碩士學(xué)位論文20線(xiàn)照射測(cè)試樣品時(shí)，由于材料內(nèi)部化學(xué)鍵結(jié)構(gòu)的不同導(dǎo)致紅外光的吸收程度不同，在根據(jù)獲得的圖譜頻率的位置、形狀和強(qiáng)度等信息，可以確定材料中包含的特征基團(tuán)和化學(xué)鍵，從而確定組成結(jié)構(gòu)[17]。本實(shí)驗(yàn)采用的是NicoletiS50型傅里葉紅外光譜儀，使用KBr壓片，波長(zhǎng)為400~4000cm-1。2.4.4四探針測(cè)試儀四探針?lè)ㄊ菍⑺闹б缘乳g隔直線(xiàn)排列的金屬探針，垂直壓在任意形狀的半導(dǎo)體表面，使電流在兩支外探針之間通過(guò)，測(cè)量?jī)芍?nèi)探針間的電位差，根據(jù)一定的公式和校正方法可以求出半導(dǎo)體的電阻率，它具有不需校正的優(yōu)點(diǎn)[48]。本實(shí)驗(yàn)使用的是ST2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀，測(cè)試樣品的規(guī)格是厚為2mm，直徑為30mm的圓形薄片，如圖2.3所示。圖2.3聚苯胺樣品Fig.2.3Polyanilinesample2.4.5矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VectorNetworkAnalyzer）是由激勵(lì)源、信號(hào)分離電路、微處理器和接收機(jī)組成[60]。其工作原理是：先將激勵(lì)源信號(hào)通過(guò)信號(hào)分離裝置分為為兩個(gè)信號(hào)部分，一部分作為參考信號(hào)R進(jìn)入接收機(jī)測(cè)試，另一部分通過(guò)定向耦合器取出，將這兩部分信號(hào)的相位和幅度信息利用采樣變頻法轉(zhuǎn)移到中低頻，從而能夠勘測(cè)相位和幅度信息之間的關(guān)系，最后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換、數(shù)字信號(hào)處理和比值運(yùn)算求出測(cè)試端的S參數(shù)[62]。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀利用傳輸線(xiàn)理論，通過(guò)測(cè)定材料的復(fù)數(shù)介電常數(shù)和復(fù)數(shù)磁導(dǎo)率來(lái)計(jì)算材料的反射率[8]。本實(shí)驗(yàn)使用得是E8362B型矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，檢測(cè)范圍為2.6-5.85GHz。

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