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Eu 3+ ,Dy 3+ 共注入AlN薄膜結(jié)構(gòu)和發(fā)光特性研究

發(fā)布時(shí)間:2021-08-15 23:26
  采用離子注入方法在氫化物氣相外延法生長(zhǎng)的AlN薄膜中注入了不同劑量的Dy3+和Eu3+,制備了Dy3+單摻、Dy3+和Eu3+共摻的AlN樣品.對(duì)于Dy3+單摻雜AlN樣品,X射線衍射和拉曼散射實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明隨著Dy注入劑量的增加,樣品的壓應(yīng)力也增加,形成了比較明顯的損傷層;但當(dāng)注入劑量由5×1014at/cm2增加至1×1015at/cm2時(shí),壓應(yīng)力增加不明顯,接近于飽和.對(duì)于Dy3+和Eu3+共摻的AlN樣品,陰極熒光實(shí)驗(yàn)表明,AlN中Eu3+和Dy3+之間可能存在能量傳遞,能量傳遞途徑為在聲子輔助下從Dy3+的4F9/2→6H15/2至Eu3+的7F0→5D2的共振能量傳遞.此外,計(jì)算發(fā)現(xiàn)改變Dy3+和Eu3+離子的注入劑量比能實(shí)現(xiàn)發(fā)光... 

【文章來(lái)源】:光子學(xué)報(bào). 2020,49(08)北大核心EICSCD

【文章頁(yè)數(shù)】:7 頁(yè)

【部分圖文】:

Eu 3+ ,Dy 3+ 共注入AlN薄膜結(jié)構(gòu)和發(fā)光特性研究


不同注入劑量的AlN:Dy3+樣品的拉曼散射光譜

XRD圖譜,劑量,XRD圖譜,樣品


圖1 不同注入劑量的AlN:Dy3+樣品的拉曼散射光譜有研究表明,纖鋅礦氮化物中離子注入造成的損傷在基質(zhì)中呈非均勻分布,在一定深度會(huì)形成一個(gè)包括大量層錯(cuò)和點(diǎn)缺陷的損傷層,隨注入劑量的增大,注入過(guò)程中點(diǎn)缺陷將重新組合或相互作用形成擴(kuò)展缺陷,并通過(guò)擴(kuò)展缺陷向未注入離子區(qū)域擴(kuò)散[8,16-18].離子注入引入的應(yīng)力被認(rèn)為是缺陷演變的驅(qū)動(dòng)力[19],并且直接反映著缺陷的分布情況.對(duì)于本文樣品,在較低注入劑量時(shí)(1×1014at/cm2)晶體質(zhì)量較好,AlN薄膜的2θ峰位于36.017?,略低于無(wú)應(yīng)力AlN的36.02?(這是由于異質(zhì)外延生長(zhǎng)引起的晶格失配所致);在較高注入劑量(5×1014at/cm2)時(shí),樣品的損傷程度增大,圖2(a)中衛(wèi)星峰的出現(xiàn)即反映出缺陷層的形成.結(jié)合XRD和Raman的實(shí)驗(yàn)結(jié)果,表明隨著Dy注入劑量的增加,注入引起的點(diǎn)缺陷密度持續(xù)增大,使得離子注入?yún)^(qū)域發(fā)生晶格擴(kuò)張,整體應(yīng)力增大;注入劑量由5×1014at/cm2增加至1×1015at/cm2時(shí)觀察到應(yīng)力增加趨于飽和,我們認(rèn)為是由于點(diǎn)缺陷密度增加到了一定程度,缺陷級(jí)聯(lián)開(kāi)始重疊,使得一部分點(diǎn)缺陷發(fā)生復(fù)合,從而導(dǎo)致應(yīng)力增加趨于飽和.

光譜圖,劑量,光譜,樣品


圖3為AlN:Dy3+的CL光譜.在400~740 nm范圍內(nèi),可以非常明顯地觀察到位于485 nm、583 nm和671 nm處的三個(gè)發(fā)光峰,分別對(duì)應(yīng)于Dy3+離子的4F9/2→6H15/2、4F9/2→6H13/2和4F9/2→6H11/2能級(jí)躍遷[20].4F9/2→6H13/2產(chǎn)生的黃色發(fā)光比4F9/2→6H15/2產(chǎn)生的藍(lán)色發(fā)光更強(qiáng),說(shuō)明樣品中較大比例的Dy3+離子占據(jù)了基質(zhì)中的非反演對(duì)稱格位[21].隨著Dy注入劑量的提升,沒(méi)有觀察到新的發(fā)光峰出現(xiàn),各發(fā)光峰峰形沒(méi)有發(fā)生變化.2.2 Dy3+,Eu3+共摻雜AlN


本文編號(hào):3345130

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