本文關(guān)鍵詞：電子背散射衍射技術(shù)及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用，由筆耕文化傳播整理發(fā)布。

電子背散射衍射技術(shù)及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用

中國(guó)體視學(xué)與圖像分析　2005年　第10卷　第4期CHINESEJOURNALOFSTEREOLOGYANDMIAGEANALYSISVo.l10No.4Dec.2005

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文章編號(hào):1007-1482(2005)04-0205-06

綜述

電子背散射衍射技術(shù)及其在材料科學(xué)中的應(yīng)用

劉　慶

(清華大學(xué)材料科學(xué)與工程系先進(jìn)材料教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,　北京　100084)

摘　要:本文介紹了電子背散射衍射(EBSD)分析技術(shù)的基本原理、發(fā)展歷史、EBSD系統(tǒng)的組成、實(shí)驗(yàn)條件、分辨率及EBSD數(shù)據(jù)處理方法等。通過(guò)多個(gè)典型的實(shí)例,系統(tǒng)介紹EBSD技術(shù)在材料研

究領(lǐng)域中的應(yīng)用,并就EBSD技術(shù)與其他相關(guān)分析技術(shù)的比較進(jìn)行了討論。關(guān)鍵詞:EBSD;取向;織構(gòu)

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中圖分類(lèi)號(hào):TG115.23;O7227　　　　　　:EBSDtechniqueandialsscience

Q(mentofMaterialsScienceandEngineering,

TsinghuaUniversity,Beijing100084,China)

Abstract:Inthispaper,thebasicprincipleofelectronback2scatteringdiffraction(EBSD)techniqueisintroduced.ThemodernEBSDsystem,experimentalconditions,spatialresolution,angularresolutionandpostanalysisofthedataarealsodescribedinthispaper.Finally,theapplicationsoftheEBSDtechniqueinmaterialsciencearediscussedbyusingafewtypicalexamples.Keywords:EBSD;orientation;texture

EBSD進(jìn)行相分析、獲得界面(晶界)參數(shù)和檢測(cè)塑

1　電子背散射衍射分析技術(shù)簡(jiǎn)介

20世紀(jì)90年代以來(lái),裝配在掃描電子顯微鏡(SEM)上的電子背散射花樣(ElectronBack2scatter2ingPatterns,簡(jiǎn)稱(chēng)EBSP)晶體微區(qū)取向和晶體結(jié)構(gòu)

性應(yīng)變。目前,EBSD技術(shù)已經(jīng)能夠?qū)崿F(xiàn)全自動(dòng)采集

微區(qū)取向信息,樣品制備較簡(jiǎn)單,數(shù)據(jù)采集速度快(能達(dá)到約36萬(wàn)點(diǎn)/小時(shí)甚至更快),分辨率高(空

),間分辨率和角分辨率能分別達(dá)到0.1μm和0.5°為快速高效的定量統(tǒng)計(jì)研究材料的微觀組織結(jié)構(gòu)和

織構(gòu)奠定了基礎(chǔ),因此已成為材料研究中一種有效的分析手段。

目前EBSD技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域集中于多種多晶體材料———工業(yè)生產(chǎn)的金屬和合金、陶瓷、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、礦石———以研究各種現(xiàn)象,如熱機(jī)械處理過(guò)程、塑性變形過(guò)程、與取向關(guān)系有關(guān)的性能(成型性、磁性等)、界面性能(腐蝕、裂紋、熱裂等)、相鑒定等。

的分析技術(shù)取得了較大的發(fā)展

[1-3]

,并已在材料微

觀組織結(jié)構(gòu)及微織構(gòu)表征中廣泛應(yīng)用。該技術(shù)也被

稱(chēng)為電子背散射衍射(ElectronBackscatteredDiffrac2tion,簡(jiǎn)稱(chēng)EBSD)或取向成像顯微技術(shù)(OrientationImagingMicroscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)OIM)

[4]

。EBSD的主要特

點(diǎn)是在保留掃描電子顯微鏡的常規(guī)特點(diǎn)的同時(shí)進(jìn)行空間分辨率亞微米級(jí)的衍射(給出結(jié)晶學(xué)的數(shù)據(jù))。EBSD改變了以往織構(gòu)分析的方法,并形成了全新的

科學(xué)領(lǐng)域,稱(chēng)為“顯微織構(gòu)”———將顯微組織和晶體學(xué)分析相結(jié)合。與“顯微織構(gòu)”密切聯(lián)系的是應(yīng)用

收稿日期:基金項(xiàng)目:作者簡(jiǎn)介:研究方向:

2005-11-14

國(guó)家自然科學(xué)基金重點(diǎn)項(xiàng)目(No.50231030)

劉慶(1964-),清華大學(xué)材料系教授,博士生導(dǎo)師形變、再結(jié)晶;超導(dǎo)材料;微區(qū)晶體結(jié)構(gòu)及取向測(cè)定技術(shù),E2mail:qing.liu@

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