機電產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成機理及控制體系研究
發(fā)布時間:2020-06-02 11:42
【摘要】: 產(chǎn)品的最終質(zhì)量是通過設(shè)計階段和制造階段等逐步實現(xiàn)的,產(chǎn)品使用過程中出現(xiàn)的質(zhì)量問題很多是由于設(shè)計缺陷造成,而不少設(shè)計缺陷可以通過系統(tǒng)科學(xué)的控制設(shè)計過程加以避免或解決。目前有關(guān)設(shè)計缺陷控制的研究大都以某一類具體產(chǎn)品為研究對象,探討其設(shè)計缺陷的形成機理及檢測或控制技術(shù),企業(yè)對于這些研究成果難有借鑒意義。本文從過程管理的角度提出了設(shè)計缺陷的控制體系,該體系適用于所有機電類產(chǎn)品的設(shè)計開發(fā)過程。 為了快速響應(yīng)顧客需求并嚴(yán)格控制缺陷產(chǎn)生,本文以并行設(shè)計開發(fā)模式為基礎(chǔ),提出了設(shè)計周期最小化建模方法,并以空調(diào)的設(shè)計開發(fā)為例對該模型進行應(yīng)用分析。在深入研究設(shè)計缺陷形成過程后,運用數(shù)學(xué)建模等方面的知識構(gòu)建了設(shè)計缺陷控制體系。該體系隨著設(shè)計過程的進展,不斷跟進控制,其目的是遏制設(shè)計缺陷的發(fā)展,消除已形成的設(shè)計缺陷。整個體系由缺陷預(yù)防體系、缺陷控制模型和缺陷解決方案三部分組成,前兩部分屬于事前控制,后者屬于事后解決。本文最后將設(shè)計周期最小化模型及設(shè)計缺陷控制體系應(yīng)用于某公司UPS電源外殼的改良設(shè)計。
【圖文】:
第3章產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成機理及預(yù)防體系乏用戶所需求的功能或存在用戶不期望的功能。而這一缺陷如果直到產(chǎn)品投放市場才發(fā)現(xiàn)的話,將會給企業(yè)帶來巨大的損失。缺陷因素放大過程如圖3.2所示,圖中所指“不可改正的設(shè)計缺陷”意指設(shè)計缺陷在試生產(chǎn)階段無法得到改正。需需求分分析析階段段方案/功能設(shè)計階段技術(shù)/參數(shù)設(shè)計階段工藝設(shè)計階段試生產(chǎn)階段圖3.2缺陷因素放大圖由圖3.2可知,如果前續(xù)設(shè)計環(huán)節(jié)的缺陷因素沒有得到控制或解決,不但其本身會被放大,后續(xù)環(huán)節(jié)仍然會有新的缺陷因素產(chǎn)生,,最終提交的將是含有多層次設(shè)計缺陷的缺陷產(chǎn)品。3.3設(shè)計缺陷預(yù)防體系形成設(shè)計缺陷的缺陷因素種類繁多,將在本文第五章中進行歸納,但實踐表明,在這些缺陷因素中多半與下列因素有直接或間接關(guān)系148]:(l)圖表間核對不足;(2)變更管理工作不到位;
【學(xué)位授予單位】:南昌大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2010
【分類號】:TH122
本文編號:2693100
【圖文】:
第3章產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成機理及預(yù)防體系乏用戶所需求的功能或存在用戶不期望的功能。而這一缺陷如果直到產(chǎn)品投放市場才發(fā)現(xiàn)的話,將會給企業(yè)帶來巨大的損失。缺陷因素放大過程如圖3.2所示,圖中所指“不可改正的設(shè)計缺陷”意指設(shè)計缺陷在試生產(chǎn)階段無法得到改正。需需求分分析析階段段方案/功能設(shè)計階段技術(shù)/參數(shù)設(shè)計階段工藝設(shè)計階段試生產(chǎn)階段圖3.2缺陷因素放大圖由圖3.2可知,如果前續(xù)設(shè)計環(huán)節(jié)的缺陷因素沒有得到控制或解決,不但其本身會被放大,后續(xù)環(huán)節(jié)仍然會有新的缺陷因素產(chǎn)生,,最終提交的將是含有多層次設(shè)計缺陷的缺陷產(chǎn)品。3.3設(shè)計缺陷預(yù)防體系形成設(shè)計缺陷的缺陷因素種類繁多,將在本文第五章中進行歸納,但實踐表明,在這些缺陷因素中多半與下列因素有直接或間接關(guān)系148]:(l)圖表間核對不足;(2)變更管理工作不到位;
【學(xué)位授予單位】:南昌大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2010
【分類號】:TH122
【引證文獻】
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1 劉衛(wèi)東;肖承地;;基于logistic回歸的設(shè)計缺陷影響因素的關(guān)系網(wǎng)模型[J];組合機床與自動化加工技術(shù);2012年12期
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1 肖承地;硬件產(chǎn)品設(shè)計缺陷形成機理的關(guān)系網(wǎng)模型及其應(yīng)用研究[D];南昌大學(xué);2012年
本文編號:2693100
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