【摘要】： 本論文采用預(yù)腐蝕而后進(jìn)行拉伸測試的研究方法,即在3.5%NaCl水溶液中(pH=7.0)完成鎂合金拉伸試樣的腐蝕后對其進(jìn)行拉伸性能測試。本文研究中所采用的主要研究手段有,動電位極化曲線、開路電位跟蹤、氣體收集、掃描電子顯微鏡斷口分析、光學(xué)顯微鏡金相分析、XRD金屬組織組成相分析以及針對蝕坑深度變化規(guī)律的統(tǒng)計(jì)學(xué)定量分析等。并通過以上方法及測試技術(shù)主要研究了AZ91及Y改性AZ91鎂合金的剩余強(qiáng)度的變化規(guī)律。研究表明,鎂合金的剩余強(qiáng)度的變化主要依賴于形成于其表面的點(diǎn)蝕坑的最大深度。試樣表面的點(diǎn)蝕坑的出現(xiàn)及發(fā)展是導(dǎo)致試樣剩余強(qiáng)度快速下降的決定性因素。在3.5%NaCl溶液中,AZ91及Y改性AZ91鎂合金的剩余強(qiáng)度隨蝕坑深度的增加呈現(xiàn)負(fù)線性變化規(guī)律,在372h之內(nèi)隨腐蝕時(shí)間變化都呈指數(shù)衰減規(guī)律。根據(jù)鎂合金的剩余強(qiáng)度的內(nèi)在決定因素,本文提出了鎂合金的剩余強(qiáng)度的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)以及評估方法,即:蝕坑最大深度評估法。
【圖文】：

形核的位錯理論有多種，較常見的有：（1） 位錯塞積形成微裂紋圖1.1 位錯塞積產(chǎn)生微裂紋Fig.1.1 Generation of the microcracks caused by the accumulation of dislocations位錯在障礙處塞積就會產(chǎn)生應(yīng)力集中，當(dāng)塞積群前端某處的應(yīng)力集中等于原子鍵合力時(shí)就會導(dǎo)致微裂紋形核。由位錯理論[76]可知，作用在領(lǐng)先位錯上的應(yīng)力為：（1.1）( )afτ =n τ τ（1.2）)bf( ) (nLaντμ式中，τa為滑移面上外加切應(yīng)力，τf為位錯運(yùn)動摩擦力，n 是塞積位錯的總= 2π 1 τ 18

吉林大學(xué)碩士學(xué)位論文圖1.2 位錯反應(yīng)形成微裂紋示意圖Fig1.2 Formation of microcrack due to the interaction of dislocations裂尖發(fā)射位錯后有可能形成一個(gè)無位錯區(qū)(DFZ)，它是一個(gè)彈性區(qū)，，因此可用彈性力學(xué)來計(jì)算DFZ中的應(yīng)力集中。有限元計(jì)算說明，DFZ 中存在兩個(gè)應(yīng)力峰值，一個(gè)處在已鈍化的裂紋頂端，另一個(gè)應(yīng)力峰在DFZ中。由于DFZ是彈性區(qū)，故應(yīng)力集中的大小并不受限止，它們僅和外加應(yīng)力σa(KⅠa)，相對摩擦應(yīng)力σa/μ以及裂尖鈍化程度有關(guān)。因此這兩個(gè)應(yīng)力峰值或其中之一就有可能等于原子鍵合力σth
【學(xué)位授予單位】：吉林大學(xué)
【學(xué)位級別】：碩士
【學(xué)位授予年份】：2009
【分類號】：TG146.22

【參考文獻(xiàn)】

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本文編號：2690972