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超聲鍵合振動(dòng)與層間熱應(yīng)力對MEMS器件影響的研究

發(fā)布時(shí)間:2020-03-31 19:21
【摘要】:MEMS技術(shù)在許多方面具有傳統(tǒng)機(jī)電技術(shù)不具備的優(yōu)勢,在許多領(lǐng)域內(nèi)擁有著非常重要的地位。在MEMS傳感器制造的過程中,通常通過超聲鍵合技術(shù)將硅芯片管殼或電路互聯(lián),然而在使用超聲鍵合技術(shù)焊接引線過程中劈刀以一定的速度撞擊芯片并在芯片產(chǎn)生高頻振動(dòng),當(dāng)撞擊速度過高或者振動(dòng)頻率與MEMS芯片固有頻率接近時(shí)都可能導(dǎo)致MEMS芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)產(chǎn)生破壞甚至斷裂失效。同時(shí)MEMS傳感器的使用過程中經(jīng)常會在高溫環(huán)境下,由于傳感器內(nèi)部不同材料的熱膨脹系數(shù)不一樣,這導(dǎo)致了由熱失配引起的熱機(jī)械應(yīng)力,較大的熱機(jī)械應(yīng)力會使整個(gè)MEMS器件失效。為了探究超聲鍵合和層間熱應(yīng)力對MEMS器件的具體影響,本文采用有限元方法,首先研究了加速度計(jì)的各種模態(tài)、響應(yīng)分析以及劈刀在不同速度下撞擊芯片時(shí)對焊盤和芯片產(chǎn)生的損害,然后研究了不同因素對影響層間熱應(yīng)力的影響以及推導(dǎo)出一種計(jì)算剝離應(yīng)力的公式。得到的結(jié)論對研究MEMS器件失效具有重要意義和參考價(jià)值。論文的主要工作如下:(1)通過有限元方法首先對微加速度計(jì)中懸臂梁的模態(tài)和諧響應(yīng)進(jìn)行了分析,得到了其產(chǎn)生共振的頻率范圍,然后通過分析劈刀與焊盤的撞擊,得到了不同速度下焊盤和芯片所受的應(yīng)力和變形。(2)通過有限元方法首先分析了芯片、粘接層和基板在不同尺寸下對層間熱應(yīng)力的影響,然后推導(dǎo)出了一種計(jì)算層間剝離應(yīng)力的方法,通過與有限元仿真以及現(xiàn)有的一種剝離應(yīng)力計(jì)算方法對比驗(yàn)證其結(jié)果的準(zhǔn)確有效性。
【圖文】:

引線鍵合


圖 1-1 超聲引線鍵合系統(tǒng)Fig.1-1 Ultrasonic wire bonding system 層間熱應(yīng)力對 MEMS 器件的影響ESM 器件在使用的過程中經(jīng)常伴隨著高溫環(huán)境,而在 MEMS 器件封基板結(jié)構(gòu)是比較常見的封裝形式。芯片和基板需要通過粘接劑連接,部各組件材料的熱膨脹系數(shù)(CTE)的不同,在這種高溫的環(huán)境下,粘接層和基板會相對于封裝中心產(chǎn)生熱膨脹,導(dǎo)致粘接層間會產(chǎn)生界大的界面應(yīng)力會使封裝內(nèi)部的芯片和基板產(chǎn)生熱應(yīng)力變形。因?yàn)槠髌峡涛g各種各樣的微機(jī)械結(jié)構(gòu)器件,所以一旦產(chǎn)生變形就會使其生誤差,,也就是常說的溫度漂移現(xiàn)象,嚴(yán)重的可能導(dǎo)致芯片碎裂從而此可知,引線鍵合和熱失配引起的界面層應(yīng)力對 MEMS 器件的失效的作用。因此在提高 MEMS 器件的質(zhì)量和可靠性的時(shí)候,我們需要鍵合和熱失配引起的界面應(yīng)力對 MEMS 器件的影響。

失效形式


圖 1-2 失效形式Fig.1-2 Failure form1.3 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀目前世界上對 MEMS 器件的研究還沒有一個(gè)科學(xué)、有效的分析方法和實(shí)驗(yàn)手段,因此對于其可靠性還處在摸索當(dāng)中。保證 MEM 器件穩(wěn)定可靠性工作的核心主要是能夠找到產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用的周期內(nèi)產(chǎn)生失效的原因,以便來確定其失效模式,通過運(yùn)用科學(xué)的方法對這些失效的模式進(jìn)行分析并且決問題。美國 Sandia 國家實(shí)驗(yàn)室是研究 MEMS 可靠性的先驅(qū)。在 1997 到 1999 的三年時(shí)間里其對 MEMS 可靠性進(jìn)行了大量的研究。Sandia 實(shí)驗(yàn)室在不同環(huán)境下對微發(fā)動(dòng)機(jī)進(jìn)行了失效模式的研究,并且最終開發(fā)出了微機(jī)械表面摩擦磨損的理論模型,事實(shí)證明其比較可靠。此模型綜合考慮了強(qiáng)度、黏附磨損、臨界體積等各種各樣的因素。在與現(xiàn)實(shí)中的物理實(shí)驗(yàn)得出的結(jié)論相比較中發(fā)現(xiàn)此模型結(jié)果與其非常的接近,具有很好的實(shí)用意義。美國噴氣推進(jìn)實(shí)驗(yàn)室(JPL)1999 年發(fā)布了《MEMS 空間應(yīng)用的可靠性保障指
【學(xué)位授予單位】:西南科技大學(xué)
【學(xué)位級別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2018
【分類號】:TH-39

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本文編號:2609471

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