本文關(guān)鍵詞：測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差S_n與分析標(biāo)準(zhǔn)中重復(fù)性限r(nóng)的關(guān)系研究

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【摘要】：化學(xué)分析儀器在出廠和驗(yàn)收時(shí)檢驗(yàn)精密度的方法通常是給定10倍標(biāo)準(zhǔn)偏差S10限值,但分析標(biāo)準(zhǔn)中給出的重復(fù)性限是被測(cè)元素在某濃度下2次獨(dú)立測(cè)量結(jié)果之差的臨界值r。S10和r不能直接比較。推導(dǎo)給出了分析儀器測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)偏差滿足分析標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)性限的指標(biāo)要求:對(duì)于χ2檢驗(yàn)法,S10≤0.49 r;對(duì)于極差法,S10≤0.52 r。兩種方法差別不大,也可簡(jiǎn)化為S10≤0.5 r,方便用于判斷儀器分析的精密度是否符合分析標(biāo)準(zhǔn)重復(fù)性限r(nóng)要求。極差法適合測(cè)量次數(shù)n≤10情況。
【作者單位】： 國(guó)家鋼鐵材料測(cè)試中心;
【關(guān)鍵詞】： χ分布 極差 重復(fù)性限 標(biāo)準(zhǔn)偏差 分析標(biāo)準(zhǔn)
【基金】：“中國(guó)應(yīng)急分析測(cè)試平臺(tái)”項(xiàng)目
【分類號(hào)】：TB9
【正文快照】： 實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)工作離不開(kāi)檢測(cè)儀器設(shè)備。良好的儀器性能是滿足測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)要求和準(zhǔn)確測(cè)量的前提�；瘜W(xué)分析儀器如火花源原子發(fā)射光譜儀、X射線熒光光譜儀、輝光光譜儀、電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜儀(ICP-AES)、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)、原子吸收光譜儀(AAS)等儀器的性能

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中國(guó)重要會(huì)議論文全文數(shù)據(jù)庫(kù) 前1條

1 張霞;鄂學(xué)禮;;實(shí)驗(yàn)室在制定標(biāo)準(zhǔn)分析方法時(shí)如何給出重復(fù)性限和復(fù)現(xiàn)性限[A];新世紀(jì)預(yù)防醫(yī)學(xué)面臨的挑戰(zhàn)——中華預(yù)防醫(yī)學(xué)會(huì)首屆學(xué)術(shù)年會(huì)論文摘要集[C];2002年

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本文編號(hào)：788812