長(zhǎng)度測(cè)量在日常工作和生活中應(yīng)用最為廣泛,發(fā)揮著重要的作用,但因受到外界因素的影響,會(huì)產(chǎn)生各種測(cè)量誤差,特別在精密測(cè)量中,受影響的程度就更為明顯。本文對(duì)各方面的影響因素進(jìn)行分析,對(duì)測(cè)量時(shí)如何避免這些影響,提高測(cè)量的準(zhǔn)確度有指導(dǎo)意義。

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【部分圖文】：

圖1測(cè)量卡尺

用卡尺測(cè)量物體時(shí)，卡尺的測(cè)量軸線是尺身滑動(dòng)的位置，而被測(cè)軸線是卡尺兩量爪之間的距離（圖1），卡尺的測(cè)量方式不符合阿貝原則，它的測(cè)量軸線與被測(cè)軸線是相互平行的，由于卡尺尺身與標(biāo)尺的匹配存在縫隙，在測(cè)量過程中就會(huì)使卡尺的測(cè)量軸線與被測(cè)軸線產(chǎn)生一定的角度，所產(chǎn)生的誤差就叫阿貝誤差[3]....

圖2被測(cè)物體

其中，φ為弧度值。根據(jù)公式可以看出，測(cè)量越長(zhǎng)的物體，所產(chǎn)生的阿貝誤差就越大，使用不符合阿貝原則的測(cè)量?jī)x器來進(jìn)行測(cè)量時(shí)，為了減小阿貝誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，首先要檢測(cè)儀器本身的狀態(tài)是否滿足測(cè)量要求，在測(cè)量時(shí)盡量使測(cè)量軸線與被測(cè)軸線平行，在與被測(cè)物體相接觸時(shí)，讓測(cè)量面盡量與被測(cè)物體相貼....

圖3接觸定位方式

除了測(cè)量原理引入的誤差，測(cè)量時(shí)的接觸定位方式也是誤差的來源之一，接觸測(cè)量時(shí)，不同的被測(cè)對(duì)象應(yīng)該選擇不同的測(cè)頭或測(cè)帽。為了減少接觸方式不正確帶來的測(cè)量誤差，在選擇測(cè)量頭時(shí)，應(yīng)盡可能使測(cè)量頭與被測(cè)件成點(diǎn)接觸，詳見圖3。如圖3所示，圓柱形工件采用刀口測(cè)頭進(jìn)行測(cè)量，刀口測(cè)頭與圓柱體形成了....

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