為研究電子膨脹閥線圈在低溫工況下失效的原因,剖析了電子膨脹閥線圈注塑工藝、繞線結(jié)構(gòu)、環(huán)境工況及其絕緣層壁厚等之間的關(guān)系,發(fā)現(xiàn)線圈絕緣層因熱脹冷縮引起絕緣層開(kāi)裂,冷凝水進(jìn)入線圈細(xì)微的裂縫,使線圈的絕緣性能降低,導(dǎo)致線圈失效。 

【文章頁(yè)數(shù)】：3 頁(yè)

【文章目錄】：
1 引言
2 電子膨脹閥線圈低溫工況下的失效現(xiàn)象及原因分析
    2.1 線圈繞線變形失效
    2.2 線圈絕緣層開(kāi)裂失效
3 電子膨脹閥線圈低溫失效解決對(duì)策
4 線圈繞線變形失效測(cè)試方法
5 結(jié)論


【參考文獻(xiàn)】：
期刊論文
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本文編號(hào)：3718177