發(fā)布時(shí)間：2021-03-30 15:33

　　可靠性測試項(xiàng)目種類有很多,如何選擇,用較少的樣品數(shù)及較少的測試時(shí)間來最大化的發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的失效率和失效模式,從而進(jìn)一步提高產(chǎn)品的可靠性,這個(gè)是電子行業(yè)內(nèi)普遍比較感興趣的課題。該文結(jié)合筆者多年在電子產(chǎn)品領(lǐng)域的研發(fā)設(shè)計(jì)和可靠性工作經(jīng)驗(yàn),推薦兩種可靠性加速測試方法:雙85測試和高低溫沖擊測試,并重點(diǎn)介紹了兩種測試方法的加速因子計(jì)算;同時(shí)介紹了一種用卡方分布來推測產(chǎn)品失效率的計(jì)算方法,最后該文根據(jù)一個(gè)實(shí)際電子產(chǎn)品的案例,給出如何根據(jù)產(chǎn)品的預(yù)期失效率設(shè)計(jì)雙85測試的測試時(shí)間和測試樣品數(shù),以及如何根據(jù)產(chǎn)品的預(yù)期使用壽命內(nèi)總開關(guān)次數(shù)設(shè)計(jì)高低溫沖擊測試的測試條件和測試循環(huán)數(shù)。 

【文章來源】：電子質(zhì)量. 2020,(11)

【文章頁數(shù)】：4 頁

【文章目錄】：
0 引言
1 兩個(gè)常用的可靠性加速測試方法
    1.1 雙85測試
    1.2 高低溫沖擊測試
2 用卡方分布來預(yù)測產(chǎn)品的失效率計(jì)算方法
3 根據(jù)產(chǎn)品使用壽命和失效率目標(biāo)來設(shè)計(jì)可靠性加速測試
4結(jié)語



本文編號：3109741