通用CCD圖像測(cè)試系統(tǒng)的研究與實(shí)現(xiàn)
[Abstract]:High-resolution remote sensing CCD camera plays a more and more important role in the field of national economy and national defense construction. The development of a new remote sensing CCD camera system is carried out in this situation. But because the CCD chip used in the camera is expensive and easy to damage, and the real CCD imaging electronic system has a long development period, in order to test the design performance of the back-end circuit system in time, The research and implementation of a general CCD image testing system is presented in this paper. In this paper, a complete image testing system is designed and implemented. This system can not only simulate the function of real CCD imaging electronic system, but also provide accurate and stable image data flow for the test of back-end circuit system, or provide analog CCD signal for different back-end video signal processing circuits. The universal CCD image testing system can also be used as an experimental image processing system, on which different image processing algorithms and related circuits can be implemented. The universal CCD image testing system consists of three PCB boards, namely, digital system board, interface board and analog signal generation board. Digital system board is based on FPGA, the main functions of the system are completed on the digital system board, including data download, storage, data format conversion, The output of the control data and the generation and transmission of the image data and the control signal required by the analog signal generator board, the interface circuit board mainly provides the interface of the image data input / output; The analog signal generating board mainly completes the function of the CCD analog signal generation part of the system. The successful development of this system has very important practical significance: we can simulate the digital image signals of different time series produced by various CCD imaging electronic systems according to the need, and then output image data or CCD image signals through different types of interfaces. It has strong flexibility, can test the performance of back-end circuit system in advance, reduce the development time effectively, simulate the output image of CCD with all kinds of noise, and make the debugging of back-end circuit more close to the actual condition of imaging. It can also be used as an experimental image processing system to realize different image processing algorithms and related circuits. The biggest characteristic of this system is that it has strong versatility and rich functions.
【學(xué)位授予單位】:西安電子科技大學(xué)
【學(xué)位級(jí)別】:碩士
【學(xué)位授予年份】:2014
【分類號(hào)】:TP751
【相似文獻(xiàn)】
相關(guān)期刊論文 前10條
1 王新華,馬玉真,陶立英;機(jī)床頻率響應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)的研究[J];濟(jì)南大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2003年02期
2 王民立;網(wǎng)上最佳智能狀態(tài)測(cè)試系統(tǒng)[J];上海應(yīng)用技術(shù)學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2003年01期
3 柴春吉;淺談測(cè)試系統(tǒng)的抗干擾技術(shù)[J];機(jī)電工程技術(shù);2004年04期
4 劉春;;測(cè)試系統(tǒng)的抗干擾設(shè)計(jì)[J];計(jì)量與測(cè)試技術(shù);2008年06期
5 洪洲;唐世文;鄒麗珊;;智能出卷測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[J];佛山科學(xué)技術(shù)學(xué)院學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版);2009年01期
6 姬虎艷;欒忠權(quán);楊慶東;楊雷;;直驅(qū)電機(jī)多信號(hào)采集測(cè)試系統(tǒng)研究[J];北京機(jī)械工業(yè)學(xué)院學(xué)報(bào);2009年01期
7 董旭;;應(yīng)用戶外測(cè)試系統(tǒng)開展光伏檢測(cè)的分析[J];計(jì)量與測(cè)試技術(shù);2012年12期
8 王如生;;電機(jī)試驗(yàn)微機(jī)測(cè)試系統(tǒng)的抗干擾設(shè)計(jì)[J];中小型電機(jī);1988年04期
9 寧永蘭,任冠眾;微波法物料含水量測(cè)試系統(tǒng)[J];電測(cè)與儀表;1990年09期
10 ;聯(lián)機(jī)電化學(xué)智能測(cè)試系統(tǒng)[J];化學(xué)工業(yè)與工程;1994年03期
相關(guān)會(huì)議論文 前10條
1 張建琳;李耀峰;;測(cè)試系統(tǒng)診斷技術(shù)的發(fā)展[A];2008年航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)峰會(huì)論文集[C];2008年
2 彭緒富;;遠(yuǎn)程測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)探討[A];新世紀(jì) 新機(jī)遇 新挑戰(zhàn)——知識(shí)創(chuàng)新和高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)發(fā)展(上冊(cè))[C];2001年
3 曾渭平;丁穎;董鎖利;張建蘭;;飛機(jī)試驗(yàn)中測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展與革新[A];2011航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集[C];2010年
4 胡璞;張奕蕓;鄭偉濤;;力量訓(xùn)練測(cè)試系統(tǒng)[A];第九屆全國體育科學(xué)大會(huì)論文摘要匯編(2)[C];2011年
5 王欣;卓光祥;;脈沖電流光纖數(shù)字化測(cè)試系統(tǒng)[A];中國工程物理研究院科技年報(bào)(2000)[C];2000年
6 羅騏先;傅翔;宋人心;朱大錚;王五平;;沖擊反射法探測(cè)混凝土內(nèi)部缺陷與厚度的方法及測(cè)試系統(tǒng)[A];第五屆全國混凝土耐久性學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集[C];2000年
7 秦小輝;周兵;陳次昌;季全凱;;水輪機(jī)模型試驗(yàn)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)的研究[A];第十八屆全國水動(dòng)力學(xué)研討會(huì)文集[C];2004年
8 卞學(xué)紅;唐武忠;曾渭平;薛戰(zhàn)軍;;飛機(jī)起落架位置檢測(cè)與收放控制測(cè)試系統(tǒng)校準(zhǔn)技術(shù)研究[A];2012航空試驗(yàn)測(cè)試技術(shù)學(xué)術(shù)交流會(huì)論文集[C];2012年
9 胡金華;劉旺鎖;;一種專家測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[A];艦船電子裝備維修理論與應(yīng)用——中國造船工程學(xué)會(huì)電子修理學(xué)組第四屆年會(huì)暨信息裝備保障研討會(huì)論文集[C];2005年
10 康真威;秦會(huì)斌;;脈沖磁性測(cè)試系統(tǒng)的硬件電路研究[A];浙江省電子學(xué)會(huì)2008年學(xué)術(shù)年會(huì)論文集[C];2008年
相關(guān)重要報(bào)紙文章 前10條
1 唐黎明;比例遙控電路的生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)[N];電子報(bào);2007年
2 通訊員 姜麗麗;我國試飛測(cè)試系統(tǒng)達(dá)到國際水平[N];中國航空?qǐng)?bào);2000年
3 林鳴;重點(diǎn)工程機(jī)載測(cè)試系統(tǒng)技改獲重大成果[N];中國航空?qǐng)?bào);2004年
4 朱自強(qiáng);AIDC模擬測(cè)試系統(tǒng)[N];中國民航報(bào);2006年
5 ;安捷倫推出三款測(cè)試系統(tǒng)[N];中國高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)導(dǎo)報(bào);2001年
6 記者 劉穎;凱翔售出發(fā)電機(jī)組智能測(cè)試系統(tǒng)[N];中國船舶報(bào);2008年
7 張東;國內(nèi)IC測(cè)試業(yè):降低成本滿足主要芯片需求[N];中國電子報(bào);2008年
8 許潔;華為112寬帶測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用于南昌電信[N];人民郵電;2004年
9 特約記者 姜麗麗;新機(jī)定型試飛實(shí)現(xiàn)安全高效保障[N];中國國防報(bào);2000年
10 羅德與施瓦茨公司;高品質(zhì)測(cè)試系統(tǒng)解決CDMA網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化[N];通信產(chǎn)業(yè)報(bào);2004年
相關(guān)博士學(xué)位論文 前6條
1 王曉輝;大規(guī)模數(shù)字邏輯器件的單粒子效應(yīng)檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)[D];中國科學(xué)院研究生院(近代物理研究所);2014年
2 詹惠琴;測(cè)試系統(tǒng)的Petri網(wǎng)建模和性能分析研究[D];電子科技大學(xué);2005年
3 黃傳動(dòng);通信協(xié)議的分布式測(cè)試方法研究和測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)[D];中國科學(xué)技術(shù)大學(xué);2006年
4 呂富勇;基于精簡(jiǎn)串行總線的小型模塊化測(cè)試系統(tǒng)研究[D];南京理工大學(xué);2010年
5 鄧啟煌;多場(chǎng)耦合條件下MSP測(cè)試系統(tǒng)的建立及在PZT陶瓷中的應(yīng)用[D];東華大學(xué);2012年
6 張敏;采后果蔬熱導(dǎo)率測(cè)試系統(tǒng)研究及其內(nèi)部傳熱溫度場(chǎng)模擬[D];河南農(nóng)業(yè)大學(xué);2005年
,本文編號(hào):2148502
本文鏈接:http://www.sikaile.net/guanlilunwen/gongchengguanli/2148502.html