立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集識(shí)別系統(tǒng)
發(fā)布時(shí)間:2020-02-12 15:18
【摘要】:立體足跡是刑偵過程中的重要痕跡證據(jù),對(duì)立體足跡進(jìn)行準(zhǔn)確的特征數(shù)據(jù)提取至關(guān)重要。依據(jù)相應(yīng)痕跡檢驗(yàn)學(xué)理論設(shè)計(jì)出立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集識(shí)別系統(tǒng);贚ogitech公司C920攝像頭完成圖像采集,采用wenglor公司CP35MHT80激光測(cè)距儀提取特征數(shù)據(jù),通過Labview實(shí)現(xiàn)圖像處理、坐標(biāo)換算、外圍測(cè)距模塊的控制及特征數(shù)據(jù)處理等操作,最后完成特征數(shù)據(jù)匹配。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該系統(tǒng)能快速地提取立體足跡特征數(shù)據(jù),并得出準(zhǔn)確的立體足跡特征識(shí)別報(bào)告。
【圖文】:
立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)效果圖
敕缸鏘殖∫帕裊⑻遄慵L卣髕ヅ涫侗穡嚶獐萘?體足跡檢驗(yàn)理論得出合理的識(shí)別結(jié)論。立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集識(shí)別系統(tǒng)開發(fā)完成后的產(chǎn)品三維圖如圖2所示,主體采用封閉式半透明結(jié)構(gòu),攝像頭、激光測(cè)距儀、步進(jìn)電機(jī)等主要設(shè)備均置于系統(tǒng)內(nèi)部,立體足跡石膏模型的取放部分采用屜形設(shè)計(jì)。3系統(tǒng)工作的基本原理如圖3所示為一枚立體足跡石膏模型,獲得立體足跡特征點(diǎn)數(shù)據(jù),,最重要的就是準(zhǔn)確找到石膏模型上的各特征點(diǎn)。根據(jù)現(xiàn)有痕跡檢驗(yàn)理論,首先需確定足跡坐標(biāo)系,然后根據(jù)坐標(biāo)系找到各足跡特征點(diǎn),進(jìn)而提取特征點(diǎn)數(shù)據(jù)。如圖4所示,展示了足跡坐標(biāo)系的建立過程。首先在足跡兩側(cè)分別作兩條交足跡輪廓于A、B和C、D的切線,然后作切線AB、CD的角平分線,交足跡輪廓于點(diǎn)E,稱點(diǎn)E為腳后跟點(diǎn),該平分線即為足跡坐標(biāo)的縱坐標(biāo)軸,以腳后跟點(diǎn)E為基準(zhǔn),沿縱坐標(biāo)軸Y正方向75mm處取點(diǎn)O,過點(diǎn)O作縱坐標(biāo)軸垂線,該線即為足跡坐標(biāo)的橫坐標(biāo)軸,由此足跡坐標(biāo)系建立完成。立體足PhotoinstructionImageacquisitionCorrectioncharacteristicsAcquisitionimageImageprocessingMarkingcharacteristicsMotioninstructionMotermotionCharacteristiccoordinatesRanginginstructionDataacquisitionInformationentryDatacollectionDataprocessingCharacteristicdataameraCteperSotormaserLangingrSBUotereo-fSotprintcharacteriticsmnforiationatabased圖1立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖圖2立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)效果圖圖3立體足跡石膏模型198
本文編號(hào):2578858
【圖文】:
立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)效果圖
敕缸鏘殖∫帕裊⑻遄慵L卣髕ヅ涫侗穡嚶獐萘?體足跡檢驗(yàn)理論得出合理的識(shí)別結(jié)論。立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集識(shí)別系統(tǒng)開發(fā)完成后的產(chǎn)品三維圖如圖2所示,主體采用封閉式半透明結(jié)構(gòu),攝像頭、激光測(cè)距儀、步進(jìn)電機(jī)等主要設(shè)備均置于系統(tǒng)內(nèi)部,立體足跡石膏模型的取放部分采用屜形設(shè)計(jì)。3系統(tǒng)工作的基本原理如圖3所示為一枚立體足跡石膏模型,獲得立體足跡特征點(diǎn)數(shù)據(jù),,最重要的就是準(zhǔn)確找到石膏模型上的各特征點(diǎn)。根據(jù)現(xiàn)有痕跡檢驗(yàn)理論,首先需確定足跡坐標(biāo)系,然后根據(jù)坐標(biāo)系找到各足跡特征點(diǎn),進(jìn)而提取特征點(diǎn)數(shù)據(jù)。如圖4所示,展示了足跡坐標(biāo)系的建立過程。首先在足跡兩側(cè)分別作兩條交足跡輪廓于A、B和C、D的切線,然后作切線AB、CD的角平分線,交足跡輪廓于點(diǎn)E,稱點(diǎn)E為腳后跟點(diǎn),該平分線即為足跡坐標(biāo)的縱坐標(biāo)軸,以腳后跟點(diǎn)E為基準(zhǔn),沿縱坐標(biāo)軸Y正方向75mm處取點(diǎn)O,過點(diǎn)O作縱坐標(biāo)軸垂線,該線即為足跡坐標(biāo)的橫坐標(biāo)軸,由此足跡坐標(biāo)系建立完成。立體足PhotoinstructionImageacquisitionCorrectioncharacteristicsAcquisitionimageImageprocessingMarkingcharacteristicsMotioninstructionMotermotionCharacteristiccoordinatesRanginginstructionDataacquisitionInformationentryDatacollectionDataprocessingCharacteristicdataameraCteperSotormaserLangingrSBUotereo-fSotprintcharacteriticsmnforiationatabased圖1立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖圖2立體足跡特征數(shù)據(jù)自動(dòng)采集對(duì)比系統(tǒng)效果圖圖3立體足跡石膏模型198
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